foto: Oliver Birli | TU Ilmenau
MetroShift - Consultoría en tecnología de medición
Contamos con la experiencia de 25 años de investigación y producción práctica de alto nivel en el contexto universitario en posicionamiento 3D y metrología de coordenadas, topografía y medición de distancias, así como en áreas metrológicas derivadas.



![Máquina de nanoposicionamiento y nanomedición<br/> [NPMM-200]](/images/metroshift/portfolio/_DSF5430-002.jpg)
![Nanoprofilador interferométrico <br /> [INP]](/images/metroshift/portfolio/DSCF6250-002.jpg)
![Prueba de los tres planos [autocalibración]](/images/metroshift/portfolio/Dreiplattentest_2.jpg)
![Diseño del marcador [IND 10]](/images/metroshift/portfolio/Marker_on_lens.jpg)
![Prueba de las tres esferas [autocalibración]](/images/metroshift/portfolio/Dreikugeltest_2.jpg)
